電纜系統(tǒng)超低頻介損測試方法

1.1產(chǎn)品特點介紹

本產(chǎn)品采用了數(shù)字變頻技術(shù)，單片機控制，升壓、降壓、測量、保護*自動化。由于全電子化，所以體積小重量輕，采用大屏幕彩色觸摸顯示屏，清晰直觀、操作簡單、顯示輸出波形。設(shè)計指標(biāo)符合《電力設(shè)備專用測試儀器通用技術(shù)條件，第4部分：超低頻高壓發(fā)生器通用技術(shù)條件》國家標(biāo)準(zhǔn)，使用簡單方便。主要特點如下：

1.1.1額定電壓小于或等于50kV的超低頻采用單聯(lián)結(jié)構(gòu)（一臺升壓器）；大于50kV的超低頻采用串聯(lián)結(jié)構(gòu)（兩臺升壓器串聯(lián)），使整體重量大大減輕，帶載能力增強，而且兩臺升壓器都可單獨使用，達到一機多用。

1.1.2電流、電壓數(shù)據(jù)均直接從高壓側(cè)采樣獲得，所以數(shù)據(jù)準(zhǔn)確。

1.1.3智能綜合保護功能：不需設(shè)置電流電壓保護值，儀器能根據(jù)試品電容量的大小和試驗電壓值，計算過壓過流保護值，還能對電壓電流突變產(chǎn)生保護，所以能捕捉到放電情況。保護動作時間都小于20ms。

1.1.4采用150kv高壓線輸出，安全、可靠。

1.1.5由于采用了閉環(huán)負反饋控制電路，所以輸出無容升效應(yīng)。

1.1.6新產(chǎn)品增加了介損測量功能，可同時測量試品的介損、電容量和絕緣電阻。

1.2超低頻高壓電源系列產(chǎn)品規(guī)格:表1

1.3超低頻高壓電源通用技術(shù)指標(biāo)

1.3.1輸出額定電壓：30kV-80kV。不同規(guī)格見表1

1.3.2輸出頻率：自動變頻范圍：0.1Hz-0.01Hz

1.3.3帶載能力：見表1

1.3.4測量精度：≤3%

1.3.5電壓正，負峰值誤差：≤3％

1.3.6電壓波形失真度：≤3％

1.3.7使用條件：戶內(nèi)、戶外；溫度：-10℃∽+40℃；濕度：≤85％RH

1.3.8輸入電源：頻率50Hz，電壓220V±5%。若是用微型發(fā)電機供電，應(yīng)使用變頻發(fā)電機，不能用普通發(fā)電機，因為普通發(fā)電機轉(zhuǎn)速不穩(wěn)定，會使升壓不正常，損壞儀器。

1.4超低頻高壓電源主體結(jié)構(gòu)

1.4.1對于額定電壓在50kv（含50kv）以下的超低頻采用一臺升壓器，稱為單聯(lián)型超低頻，其結(jié)構(gòu)以及各部件說明于下圖：

超低頻介損試驗操作方法

按上述連接好現(xiàn)場試驗系統(tǒng)后，接通電源就可進入試驗中?？刂葡溆|摸屏首頁是連線圖選擇，應(yīng)選擇介損測試連線圖進入?yún)?shù)設(shè)置界面，試驗時間，試驗電壓，按試驗要求修改。點擊要修改的數(shù)據(jù)，會彈出數(shù)字鍵盤，輸入所需的數(shù)據(jù)。為了保證安全，系統(tǒng)對錄入的數(shù)據(jù)做了限定：試驗電壓范圍3kv至額定值；試驗時間1-99分鐘，試驗時間在介損試驗中是一個無用的參量，但它會引起停機，所以為了避免意外停機，可將時間設(shè)大些。升壓步數(shù)也是一個無用的參數(shù)，不需要修改，介損試驗是按固定程序進行的。試驗結(jié)束后本次參數(shù)會自動保存為下次試驗的默認(rèn)值。點擊“介損試驗"將進現(xiàn)場連線圖選擇：單端屏蔽法連線圖和雙端屏蔽法連線圖（詳細說明見“3.6怎樣消除電纜表面泄露電流對介損的影響"）。選擇現(xiàn)場連線圖后將入試驗中。儀器*入自檢，自檢是對試品進行預(yù)試，對儀器自身進行校準(zhǔn)，自檢時間的長短與電纜長度有關(guān)，電纜越長自檢時間越長，大若一至五分鐘，需要耐心等待。自檢完成后自動進入介損連續(xù)測試中，可以同時測出介損、電容量、絕緣電阻值，每個周期更新一次數(shù)據(jù)（10秒）。我公司設(shè)計的越測越穩(wěn)，越測越準(zhǔn)技術(shù)，幾個測量周期后數(shù)據(jù)會變得非常穩(wěn)定就可以停機讀數(shù)。系統(tǒng)對試驗過程提供智能保護：過壓、過流、電壓電流突變、放電等產(chǎn)生保護動作。停機過程會自動對試品放電。停機后可打印或保存本次數(shù)據(jù)，能循環(huán)保存九十組。在歷史數(shù)據(jù)查詢中可打印選中的數(shù)據(jù)記錄。屏幕最上面一行是儀器的工作狀態(tài)提示，包刮一些儀器的故障信息。因為有觸控鍵提示和幫助信息，在不看說明書的情況下，可以循作提示進行操作。拆線前應(yīng)先拔掉電源線，用放電棒對試品放電，再短路放電，再進行拆線操作。如果被試電纜長度小于100米,儀器不能輸出光滑的正弦波電壓，可將補償電容器并聯(lián)在試品端，在參數(shù)設(shè)置界面上選擇“加補償電容"，這樣試驗結(jié)果會扣除補償電容的影響。補償電容必須用本產(chǎn)品所帶的，因為儀器里預(yù)置了此電容的參數(shù)。四個主要操作界面如下：

3.6怎樣消除電纜表面泄露電流對介損的影響

   當(dāng)空氣濕度較大，或電纜端部表面有污物時，會在電纜表面形成泄露電流，會增大介損值，影響對電纜本體絕緣性能的判斷。所以在做介損試驗時，要消除這種影響。方法是在電纜頭端部的下半部分纏繞一個屏蔽環(huán)，用連線引至控制箱的屏蔽端子上。因為電纜兩端都有表面泄露電流，理論上兩邊都要測量，方法是在被測相電纜端部靠近電纜接地的位置分別制好屏蔽環(huán)，借用一根未測的相線連接遠端屏蔽環(huán)，然后將兩端屏蔽環(huán)信號并聯(lián)連接至儀器的屏蔽端子上。這種方法叫雙端屏蔽法。這種連線屏蔽線的方法在現(xiàn)場顯然是不方便的，為了簡化這個問題，我們把兩端的泄露電流近似看成一樣大，只測一端的泄露電流，在介損的測試時扣除兩倍的泄露電流。這種方法叫單端屏蔽法。接線方法見上面的介損的現(xiàn)場連線圖。儀器是根據(jù)你選擇的連線圖來確定測試模式，所以在觸摸屏上操作過程中選擇的測試連線圖應(yīng)與實際的連線圖一致否則測試介損結(jié)果會有較大誤差。若空氣濕度小，電纜端部表面干凈可不接屏蔽線。

3.7超低頻介損試驗規(guī)程（Q/CSG1205027-2020 6kV-35kV電纜系統(tǒng)超低頻介損測試方法）介紹

    用介損數(shù)據(jù)判別電纜的絕緣性能主要內(nèi)容摘要如下,僅供參考：

3.6.1介損的測試點0.5U0、U0、1.5UO

3.6.2超低頻電纜介損測試值處理意見表

對上表說明：

以介損平均值、介損變化量和介損穩(wěn)定性的絕對值作為評價指標(biāo)，或者根據(jù)與歷史數(shù)據(jù)做比較的結(jié)果，可將電纜絕緣的狀態(tài)分為如下 3 種：

a) 正常狀態(tài)：無需采取檢修行動。

b) 注意狀態(tài)：建議進一步測試。定期對該電纜線路進行復(fù)測，建議時間間隔為 1 年，

若復(fù)測結(jié)果沒有明顯變化，可以繼續(xù)投入運行；若復(fù)測結(jié)果已明顯變大，或結(jié)果值已進入需

要采取檢修行動的范圍，應(yīng)立即檢查電纜線路缺陷位置，及時進行更換。

c) 異常狀態(tài)：需要采取檢修行動。應(yīng)立即檢查電纜線路缺陷位置，及時進行修復(fù)或更換。